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3
LTC8043
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
VDD = 5V, VREF = 10V, VIOUT = GND = 0V, TA = TMIN to TMAX, unless otherwise specified.
Note 7: To 0.01% for a full-scale change, measured from
falling edge of LD.
Note 8: VREF = 0V. DAC register contents changed from all 0s to all 1s or
from all 1s to all 0s.
Note 9: VREF = 6VRMS at 1kHz. DAC register loaded with all 1s.
Note 10: 10Hz to 100kHz between RFB and IOUT. Calculation from en =
√4KTRB where: K = Boltzmann constant (J/K°); R = resistance ();
T = resistor temperature (
°K); B = bandwidth (Hz).
BLOCK DIAGRAM
W
The q denotes specifications which apply over the full operating
temperature range.
Note 1:
±0.5LSB = ±0.012% of full scale.
Note 2: Using internal feedback resistor.
Note 3: Guaranteed by design, not subject to test.
Note 4: IOUT with DAC register loaded with all 0s.
Note 5: Typical temperature coefficient is 100ppm/
°C.
Note 6: IOUT load = 100 in parallel with 13pF.
40k
10k
40k
20k
40k
20k
40k
20k
40k
DECODER
BIT 1
(MSB)
BIT 2
BIT 3
BIT 4
BIT 12
(LSB)
CLK
IN
LOAD
VDD
VREF
RFB
IOUT
SRI
6
GND
4
3
2
8043 BD
DAC REGISTER
INPUT 12-BIT SHIFT REGISTER
5
7
8
1
LD
CLK
ALL GRADES
SYMBOL PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
Digital Inputs
VIH
Digital Input High Voltage
q
2.4
V
VIL
Digital Input Low Voltage
q
0.8
V
IIN
Digital Input Current
VIN = 0V to VDD
q
0.001
±1
A
CIN
Digital Input Capacitance
VIN = 0V,(Note 3)
q
8pF
Timing Characteristics (Note 3)
tDS
Serial Input to Clock Setup Time
q
30
– 5
ns
tDH
Serial Input to Clock Hold Time
q
60
25
ns
tSRI
Serial Input Data Pulse Width
q
80
ns
tCH
Clock Pulse Width High
q
80
ns
tCL
Clock Pulse Width Low
q
80
ns
tLD
Load Pulse Width
q
140
ns
tASB
LSB Clocked into Input Register
q
0ns
to Load DAC Register Time
Power Supply
VDD
Supply Voltage
q
4.75
5
5.25
V
IDD
Supply Current
Digital Inputs = 0V or VDD
q
100
A
Digital Inputs = VIH or VIN
q
500
A
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However, no responsibility is assumed for its use. Linear Technology Corporation makes no represen-
tation that the interconnection of its circuits as described herein will not infringe on existing patent rights.
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